Inspekcje
-
Mini-śruba w technice pomiarowej
Precyzyjne pozycjonowanie czujnika za pomocą miniaturowego mechanizmu śrubowo-tocznego w systemie pomiarowym.
-
Precision cross table for wafer inspection
A precision cross table enables simultaneous inspection of silicon wafers from above and below.
-
Precision cross table with cleanroom energy chain
Precision cross table with innovative cleanroom-compatible energy supply system for inspecting wafers.